con display LCD strumento di orientamento a raggi X wafer per lingotti per silicio
con display LCD strumento di orientamento a raggi X wafer per lingotti per silicio
Questo strumento adotta il principio theta e 2 theta
I raggi X si irradiano sul campione rilevato, quindi si riflettono sul tubo ricevitore
quindi conosceremo l'angolo del campione rilevato, applicando sempre il rilevamento dell'angolo
lingotto monocristallino come silicio, lingotto di zaffiro o wafer
Servizio personalizzato in base alle esigenze individuali del cliente
progetteremo l'attrezzatura del campione in base alle esigenze del cliente, al servizio individuale per la dimensione del campione rilevato, al piano del campione e
scopo della misurazione.
Funzionamento tramite schermo tattile
Tutte le operazioni possono essere effettuate tramite questa schermata
Misurazione del lingotto di zaffiro
Misurazione del piano A,C,R,M
dimensioni da 2 a 10 pollici
